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Etude de l’effet Jahn-Teller sur les impuretés 3d dans les semiconducteurs III-V et II-VI avec la méthode FP-LAPW

BENAISSA Cherif Youcef (2011-06-05)

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Auteur
- BENAISSA Cherif Youcef (1)
Date Issued
- 2011 (1)