RESOLUTION ET AFFINEMENT DE LA STRUCTURE DU COMPOSE BIS-(SALICYLATE) DE TRIPHENYLBISMUTH. - BENKADARI, ABDELKARIM (BENKADARI ABDELKARIM, 2010)
Depuis l’avènement de l’outil informatique, et la performance croissante des appareils de diffraction des rayons X, la détermination de la structure cristalline des monocristaux, à partir des données des rayons X, reste la méthode la plus aisée et la plus efficace à mettre en œuvre pour caractériser les propriétés structurales des solides cristallins. A partir d’un spectre de diffraction des rayons X correctement enregistré et traité, il est possible d’accéder à la résolution de la structure cristalline par diverses méthodes, puis à l’affinement de la structure obtenue. La détermination de la structure cristalline par diffraction des rayons X haute résolution sur monocristal d’un composé de la famille des organobismuths (V) de formule chimique C32 H25 Bi O6 se fait en 2 étapes, la résolution, l’affinement de la structure et l’analyse structurale de la molécule. Au cours de la résolution et l’affinement de la structure, on a utilisé respectivement les deux programmes suivants: [SHELXS], [SHELXL]. La résolution de la structure conduit aux coordonnées des positions atomiques xj, yj, zj mais le plus intéressant pour nous chimistes c’est la disposition des atomes les uns par rapport aux autres. A cet effet, on décrit la structure par ces longueurs de liaisons et angles de valence ainsi que les angles de torsion. Les résultats obtenus (distance, angle de valence, angle de torsion) montrent la stabilité de la structure retenue, témoignent de la qualité du spectre de diffraction des rayons X enregistré et aussi l’efficacité du formalisme de traitement des données utilisé (formalisme de Blessing).
Keywords: rayons X,SHELXS,C32 H25 Bi O6,formalisme de Blessing